Lokalizacja uszkodzeń w systemach mikroprocesowych
Cena
15,00 zł
autor: James W.Coffron
wydawca: WNT
isbn/issn: 83-204-0711-7
rok: 1985
liczba stron: 223
waga: 0,30 kg
stan: używana
ocena zużycia w skali 1:6: 5-/4 /stosownie do wieku/
okladka: miękka
płyta: nie
Dodaj komentarz przez Facebook